X射线衍射法

X射线衍射法

X射线衍射法（X-ray diffraction,XRD）是利用X射线探测晶体或分子结构的分析方法，由马克斯·冯·劳厄于1912年发明 。基于布拉格定律（nλ=2d sinθ），该方法通过测量原子平面对X射线的衍射图谱分析物质内部结构，其核心设备包含X射线源、测角仪、探测器和数据处理系统 。X射线波长（0.01-10纳米）与晶格间距相当，既能穿透样品形成衍射信号，又可被晶胞部分吸收，适用于1-100纳米晶粒尺寸测定 。应用涵盖制药结晶分析、矿物鉴定、材料科学检测等领域 。1915年布拉格父子完善衍射理论并获诺贝尔奖，20世纪50年代计数器衍射仪取代照相法，70年代结合计算机实现动态观察 。21世纪同步辐射技术和微焦斑X射线衍射（μ-XRD）提升了空间分辨率，可进行高压环境与微区结构分析 。

想要了解更多“X射线衍射法”的信息，请点击：X射线衍射法百科